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Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction

Abstract : Coherent x-ray diffraction is used to investigate the mechanical properties of a single grain within a polycrystalline thin film in situ during a thermal cycle. Both the experimental approach and finite element simulation are described. Coherent diffraction from a single grain has been monitored in situ at different temperatures. This experiment offers unique perspectives for the study of the mechanical properties of nano-objects.
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https://hal-mines-paristech.archives-ouvertes.fr/hal-00491060
Contributeur : Bibliothèque Umr7633 <>
Soumis le : mardi 20 février 2018 - 14:27:46
Dernière modification le : jeudi 9 avril 2020 - 17:08:05
Document(s) archivé(s) le : lundi 21 mai 2018 - 13:06:23

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Vaxelaire-Proudhon New journal...
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Nicolas Vaxelaire, Henry Proudhon, S. Labat, C. Kirchlechner, J. Keckes, et al.. Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction. New Journal of Physics, Institute of Physics: Open Access Journals, 2010, 12 (3), 12 p. ⟨10.1088/1367-2630/12/3/035018⟩. ⟨hal-00491060⟩

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