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Article dans une revue
Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction
Abstract : Coherent x-ray diffraction is used to investigate the mechanical properties of a single grain within a polycrystalline thin film in situ during a thermal cycle. Both the experimental approach and finite element simulation are described. Coherent diffraction from a single grain has been monitored in situ at different temperatures. This experiment offers unique perspectives for the study of the mechanical properties of nano-objects.
Littérature citée [16 références]
https://hal-mines-paristech.archives-ouvertes.fr/hal-00491060
Contributeur : Bibliothèque Umr7633 <>
Soumis le : mardi 20 février 2018 - 14:27:46
Dernière modification le : jeudi 24 septembre 2020 - 18:30:08
Archivage à long terme le : : lundi 21 mai 2018 - 13:06:23
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