Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction

Nicolas Vaxelaire; Henry Proudhon; S. Labat; C. Kirchlechner; J. Keckes; V. Jacques; S. Ravy; Samuel Forest; O. Thomas

Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction

Nicolas Vaxelaire ¹ Henry Proudhon ² S. Labat ¹ C. Kirchlechner J. Keckes V. Jacques ³ S. Ravy ³ Samuel Forest ² O. Thomas ¹

1 IM2NP - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence

2 MAT - Centre des Matériaux

3 SSOLEIL - Synchrotron SOLEIL

Abstract : Coherent x-ray diffraction is used to investigate the mechanical properties of a single grain within a polycrystalline thin film in situ during a thermal cycle. Both the experimental approach and finite element simulation are described. Coherent diffraction from a single grain has been monitored in situ at different temperatures. This experiment offers unique perspectives for the study of the mechanical properties of nano-objects.

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Sciences de l'ingénieur [physics] / Matériaux

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Contributeur : Bibliothèque Umr7633 <>
Soumis le : mardi 20 février 2018 - 14:27:46
Dernière modification le : lundi 12 novembre 2018 - 11:03:25
Document(s) archivé(s) le : lundi 21 mai 2018 - 13:06:23

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