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Flatness Characterization: Two Approaches

Abstract : We survey two approaches to flatness necessary and sufficient conditions and compare them on examples.
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https://hal-mines-paristech.archives-ouvertes.fr/hal-00575197
Contributeur : François Chaplais <>
Soumis le : mercredi 9 mars 2011 - 18:02:09
Dernière modification le : jeudi 24 septembre 2020 - 17:04:18
Archivage à long terme le : : mardi 6 novembre 2012 - 15:56:29

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Felix Antritter, Jean Lévine. Flatness Characterization: Two Approaches. Advances in the Theory of Control, Signals and Systems with Physical Modeling, Springer Verlag, pp.127-139, 2010, LECTURE NOTES IN CONTROL AND INFORMATION SCIENCES, ⟨10.1007/978-3-642-16135-3_11⟩. ⟨hal-00575197⟩

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