Flatness Characterization: Two Approaches

Abstract : We survey two approaches to flatness necessary and sufficient conditions and compare them on examples.
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Contributeur : François Chaplais <>
Soumis le : mercredi 9 mars 2011 - 18:02:09
Dernière modification le : lundi 12 novembre 2018 - 11:01:24
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 novembre 2012 - 15:56:29

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Felix Antritter, Jean Lévine. Flatness Characterization: Two Approaches. Advances in the Theory of Control, Signals and Systems with Physical Modeling, Springer Verlag, pp.127-139, 2010, LECTURE NOTES IN CONTROL AND INFORMATION SCIENCES, ⟨10.1007/978-3-642-16135-3_11⟩. ⟨hal-00575197⟩

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