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Communication dans un congrès

Characterization of surface roughness by means of wavelet analysis

Bruno Figliuzzi 1 Dominique Jeulin 1 Gabriel Fricout 2 Jean-Jacques Piezanowski 2
1 CMM - Centre de Morphologie Mathématique
2 ArcelorMittal Maizières Research SA
Keywords : Freeform Surface Measurement and Characterisation
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées
https://hal-mines-paristech.archives-ouvertes.fr/hal-00835058
Contributeur : Bibliothèque Mines Paristech <>
Soumis le : mardi 18 juin 2013 - 07:08:29
Dernière modification le : jeudi 17 septembre 2020 - 12:28:31

Identifiants

  • HAL Id : hal-00835058, version 1

Collections

ENSMP | ENSMP_CMM | PARISTECH | INSTITUT-TELECOM

Citation

Bruno Figliuzzi, Dominique Jeulin, Gabriel Fricout, Jean-Jacques Piezanowski. Characterization of surface roughness by means of wavelet analysis. 13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Apr 2011, Twickenham, United Kingdom. ⟨hal-00835058⟩

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