Study of temperature and radiation induced microstructural changes in Xe-implanted UO2 by TEM, STEM, SIMS and positron spectroscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Nuclear Materials Année : 2013

Study of temperature and radiation induced microstructural changes in Xe-implanted UO2 by TEM, STEM, SIMS and positron spectroscopy

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Nikolay Djourelov
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Benoît Marchand
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ACE
Hristo Marinov
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Nathalie Moncoffre
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ACE
Yves Pipon
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ACE
Nicolas Bérerd
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Louis Raimbault
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Dates et versions

hal-00881212 , version 1 (07-11-2013)

Identifiants

Citer

Nikolay Djourelov, Benoît Marchand, Hristo Marinov, Nathalie Moncoffre, Yves Pipon, et al.. Study of temperature and radiation induced microstructural changes in Xe-implanted UO2 by TEM, STEM, SIMS and positron spectroscopy. Journal of Nuclear Materials, 2013, 443 (1-3), pp.562-569. ⟨10.1016/j.nucmat.2013.07.066⟩. ⟨hal-00881212⟩
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