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TEM Image Analysis, Modelling: Application To Boehmite Nanoparticles

Maxime Moreaud Dominique Jeulin 1 Vincent Morard 1
1 CMM - Centre de Morphologie Mathématique
Type de document :
Article dans une revue
Liste complète des métadonnées
https://hal-mines-paristech.archives-ouvertes.fr/hal-00906499
Contributeur : François Willot <>
Soumis le : mardi 19 novembre 2013 - 21:39:20
Dernière modification le : jeudi 24 septembre 2020 - 16:38:02

Identifiants

  • HAL Id : hal-00906499, version 1

Collections

ENSMP | ENSMP_CMM | PARISTECH | INSTITUT-TELECOM | PSL

Citation

Maxime Moreaud, Dominique Jeulin, Vincent Morard. TEM Image Analysis, Modelling: Application To Boehmite Nanoparticles. Journal of Microscopy, Wiley, 2012, 245 (2), pp.186-199. ⟨hal-00906499⟩

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