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Conference papers
Etude XPS de la ré-oxydation de films de Nichrome dans la chambre d'analyse lors du profilage séquentiel par érosion
Résumé : Au cours d’études par profilage XPS de la composition de films de Nichrome, d’importantes variations sur la quantité d’oxygène après érosion ont été observées. Ces variations ne dépendent pas de l’état d’oxydation de la couche superficielle mais de l’intervalle de temps entre l’érosion et l’acquisition du spectre O1s. L’étude a mis en évidence que la teneur en oxygène augmente dès la première minute après érosion et continue sur 6 heures. L’apparition de composantes à haute énergie sur les pics Cr2p montre une oxydation concomitante du chrome.
Keywords :
XPS X-ray Photoélectron Spectroscopy
https://hal-mines-paristech.archives-ouvertes.fr/hal-01444740
Contributor : Frédéric Georgi Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, February 1, 2017 - 10:22:23 AM
Last modification on : Thursday, December 9, 2021 - 12:58:02 PM
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