Coupled EBSD, NanoSIMS and FIB techniques for Atom Probe Tomography specimen preparation - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Coupled EBSD, NanoSIMS and FIB techniques for Atom Probe Tomography specimen preparation

(1) , (1) , (1) , (1) , (1) , (1) , (2) , (3, 4)
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Frederic Danoix
Didier Blavette
D Gibouin
Laurence Chevalier
Fabien Cuvilly

Domaines

Chimie Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01513108 , version 1 (24-04-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01513108 , version 1

Citer

C Debreux, Frederic Danoix, Didier Blavette, D Gibouin, Laurence Chevalier, et al.. Coupled EBSD, NanoSIMS and FIB techniques for Atom Probe Tomography specimen preparation. PTM 2015 - International conference on solid-solid phase transformations in inorganic materials, Jun 2015, Whistler, Canada. ⟨hal-01513108⟩
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