A finite element model for wrinkling analysis of thin films on compliant substrates

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Communication dans un congrès
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Contributeur : Lem3 Ul <>
Soumis le : mercredi 3 mai 2017 - 10:20:51
Dernière modification le : mercredi 12 septembre 2018 - 01:28:00

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  • HAL Id : hal-01517368, version 1

Citation

Fan Xu, Salim Belouettar, Michel Potier-Ferry, Heng Hu. A finite element model for wrinkling analysis of thin films on compliant substrates . 12th U.S. National Congress on Computational Mechanics - USNCCM12, Jul 2013, Raleigh- North California, United States. ⟨hal-01517368⟩

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