A finite element model for wrinkling analysis of thin films on compliant substrates - Mines Paris Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01517368 , version 1 (03-05-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01517368 , version 1

Citer

Fan Xu, Salim Belouettar, Michel Potier-Ferry, Heng Hu. A finite element model for wrinkling analysis of thin films on compliant substrates . 12th U.S. National Congress on Computational Mechanics - USNCCM12, Jul 2013, Raleigh- North California, United States. ⟨hal-01517368⟩
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