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L’équipe SMARTIES est une équipe d’une trentaine de chercheurs dont les activités sont centrées sur les méthodes de conception et la modélisation de dispositifs, systèmes et circuits intégrés conçus en technologie CMOS, à l’aide de technologies émergentes (CNT, CNTFET, MRAM, …), selon des approches de conception alternatives (3D, adiabatique, etc.).

L’ensemble de ces travaux visent à développer des systèmes et circuits intégrés offrant de hautes performances et une consommation d’énergie réduite, mais également des circuits adaptatifs à leur état de fonctionnement et à l’environnement de sorte à garantir la fonctionnalité, la sureté et la sécurité des informations traitées ou bien satisfaire des contraintes applicatives spécifiques.

Dans cette démarche SmartIES se caractérise par sa volonté de conduire les approches théoriques jusqu’à des démonstrateurs expérimentaux ou des bancs de mesure. Au cours des cinq dernières années, on peut noter de nombreux travaux ayant contribué à des réalisations matérielles (ASIC, plateformes expérimentales dédiées, prototypes matériels et/ou logiciels) et conduit à des transferts technologiques.

Open Access Files

64 %

Nombre de Fichiers déposés

241

Nombre de Notices déposées

144

Politique des éditeurs en matière de dépôt dans une archive ouverte

Cartographie des collaborations

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RF test Energy Performance Hardware Test efficiency NP-hard problems Education Reliability Machine-learning algorithms Digital signal processing Oscillatory neural network Time-domain analysis FDSOI technology Edge artificial intelligence edge AI Oscillatory Neural Networks Quantum computing Hardware security Pattern recognition Evaluation Bioimpedance Insulator-Metal-Transition IMT 3D integration Phase noise Indirect test Integrated circuit testing Power demand Process variability Three-dimensional displays Electrothermal simulation Microprocessors MEMS Integrated circuit noise Magnetic tunneling Sensors RSA Test Integrated circuits Alternate testing Through-silicon vias Image Edge Detection Circuit faults Interconnects OQPSK Technology computer-aided design TCAD Carbon nanotube Test cost reduction ADC Low-cost measurements Three-dimensional integrated circuits Qubit Digital ATE Delays Vanadium dioxide Noise measurement Noise Self-oscillations Transistors Bioimpedance spectroscopy Side-channel attacks Neuromorphic computing Error mitigation Side-channel analysis Current mirror EM fault injection Mutual information Computer architecture Automatic test pattern generation SRAM Bio-logging Quantum Indirect testing Beyond-CMOS devices Convective accelerometer Edge AI Logic gates Fault tolerance ZigBee Self-heating Specifications 1-bit acquisition Phase shifter Carbon nanotubes Switches Integrated circuit modeling Electronic tagging Deep learning Analog/RF integrated circuits Test confidence RF integrated circuits Oscillatory Neural Network Countermeasures SEU Ensemble methods Fault attacks Calibration Circuit simulation Low-power Analog signals Oscillatory neural networks ONN One bit acquisition