La microscopie à pression contrôlée - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2008

La microscopie à pression contrôlée

(1) ,
1
Christian Mathieu

Résumé

Introduction. Aspects fondamentaux. Diffusion élastique. Processus. Aspects techniques. Pompage différentiel. Imagerie en pression contrôlée. Conséquence de la pression sur la résolution obtenue. Cas des détecteurs d'électrons rétrodiffusés. Cas des détecteurs à amplification gazeuse. Application aux échantillons hydratés. Microanalyse. Contribution du gaz résiduel. Atténuation des photons X. Génération de rayons X dans la zone périphérique du faisceau. Angle solide du détecteur. Précautions - Méthodes de correction
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00846371 , version 1 (19-07-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00846371 , version 1

Citer

Monique Repoux, Christian Mathieu. La microscopie à pression contrôlée. François Brisset. Microscopie électronique à balayage et microanalyses, EDP Sciences, Chapitre VIII - p. 243-286, 2008, GN-MEBA, 978-2-7598-0082-7. ⟨hal-00846371⟩
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