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La microscopie à pression contrôlée

Résumé : Introduction. Aspects fondamentaux. Diffusion élastique. Processus. Aspects techniques. Pompage différentiel. Imagerie en pression contrôlée. Conséquence de la pression sur la résolution obtenue. Cas des détecteurs d'électrons rétrodiffusés. Cas des détecteurs à amplification gazeuse. Application aux échantillons hydratés. Microanalyse. Contribution du gaz résiduel. Atténuation des photons X. Génération de rayons X dans la zone périphérique du faisceau. Angle solide du détecteur. Précautions - Méthodes de correction
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https://hal-mines-paristech.archives-ouvertes.fr/hal-00846371
Contributor : Magalie Prudon <>
Submitted on : Friday, July 19, 2013 - 9:45:11 AM
Last modification on : Thursday, September 24, 2020 - 5:22:54 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00846371, version 1

Citation

Monique Repoux, Christian Mathieu. La microscopie à pression contrôlée. François Brisset. Microscopie électronique à balayage et microanalyses, EDP Sciences, Chapitre VIII - p. 243-286, 2008, GN-MEBA, 978-2-7598-0082-7. ⟨hal-00846371⟩

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