La microscopie à pression contrôlée

Monique Repoux (1) , Christian Mathieu

1 CEMEF - Centre de Mise en Forme des Matériaux

Introduction. Aspects fondamentaux. Diffusion élastique. Processus. Aspects techniques. Pompage différentiel. Imagerie en pression contrôlée. Conséquence de la pression sur la résolution obtenue. Cas des détecteurs d'électrons rétrodiffusés. Cas des détecteurs à amplification gazeuse. Application aux échantillons hydratés. Microanalyse. Contribution du gaz résiduel. Atténuation des photons X. Génération de rayons X dans la zone périphérique du faisceau. Angle solide du détecteur. Précautions - Méthodes de correction

Monique Repoux, Christian Mathieu. La microscopie à pression contrôlée. François Brisset. Microscopie électronique à balayage et microanalyses, EDP Sciences, Chapitre VIII - p. 243-286, 2008, GN-MEBA, 978-2-7598-0082-7. ⟨hal-00846371⟩